mikroskop gaya atom afm
Atomic Force Microscope (AFM), alat analitik anu tiasa dianggo pikeun ngulik struktur permukaan bahan padet, kalebet insulator.Éta ngulik struktur permukaan sareng sipat hiji zat ku cara ngadeteksi interaksi interatomik anu lemah pisan antara permukaan sampel anu bakal diuji sareng unsur sénsitip gaya mikro.Bakal sapasang gaya lemah pisan sénsitip mikro-cantilever tungtung dibereskeun, tungtung nu sejen ujung leutik deukeut sampel, mangka bakal berinteraksi sareng eta, gaya bakal nyieun deformasi mikro-cantilever atawa parobahan kaayaan gerakan.Nalika nyeken sampel, sénsor bisa dipaké pikeun ngadeteksi parobahan ieu, urang bisa meunangkeun distribusi informasi gaya, ku kituna pikeun ménta morfologi permukaan informasi résolusi nano jeung informasi roughness permukaan.
★ Integrated scanning usik jeung sampel stag ditingkatkeun kamampuhan anti gangguan.
★ Precision laser sarta alat positioning usik nyieun ngarobah usik tur nyaluyukeun titik basajan tur merenah.
★ Ku ngagunakeun usik sampel approaching manner, jarum bisa jejeg scanning sampel.
★ Otomatis pulsa motor drive kontrol sampel usik nangtung approaching, pikeun ngahontal positioning tepat wewengkon scanning.
★ Sampel scanning aréa dipikaresep bisa kalawan bébas dipindahkeun ku ngagunakeun desain precision tinggi sampel alat mobile.
★ Sistim observasi CCD kalawan positioning optik achieves observasi real-time na positioning wewengkon scan sampel usik.
★ Desain sistem kontrol éléktronik of modularization facilitated pangropéa sarta perbaikan sinambung sirkuit.
★ The integrasi sababaraha sirkuit kontrol mode scanning, cooperate kalawan sistem software.
★ gantung Spring nu basajan tur praktis ditingkatkeun pangabisa anti gangguan.
| Modeu gawé | FM-Ngetok, kontak pilihan, gesekan, fase, magnét atawa éléktrostatik |
| Ukuran | Φ≤90mm,H≤20mm |
| Jangkauan scanning | 20 mmin XYdirection,2 mm arah Z. |
| Resolusi scanning | 0.2nm arah XY,0,05nm dina arah Z |
| Rentang gerak sampel | ± 6,5 mm |
| Lebar pulsa motor ngadeukeutan | 10±2ms |
| Titik sampling gambar | 256 × 256,512 × 512 |
| Magnification optik | 4X |
| Résolusi optik | 2,5 mm |
| Laju scan | 0.6Hz~4.34Hz |
| Sudut scan | 0°~360° |
| Kontrol nyeken | 18-bit D / A dina arah XY,16-bit D / A dina arah Z |
| Sampling data | 14-bitA / D,double16-bit A / D multi-kanal sampling sinkron |
| Eupan balik | eupan balik digital DSP |
| Laju sampling eupan balik | 64.0KHz |
| panganteur komputer | USB2.0 |
| lingkungan operasi | Windows98/2000/XP/7/8 |