Mikroskop Gaya Atom
-
mikroskop gaya atom afm
Merk: NANBEI
Modél: AFM
Atomic Force Microscope (AFM), alat analitik anu tiasa dianggo pikeun ngulik struktur permukaan bahan padet, kalebet insulator.Éta ngulik struktur permukaan sareng sipat hiji zat ku cara ngadeteksi interaksi interatomik anu lemah pisan antara permukaan sampel anu bakal diuji sareng unsur sénsitip gaya mikro.
